دانلود ترجمه مقاله A High Performance SEU Tolerant Latch 2015

دانلود ترجمه مقاله A High Performance SEU Tolerant Latch 2015

دانلود ترجمه مقاله A High Performance SEU Tolerant Latch 2015

دانلود ترجمه مقاله A High Performance SEU Tolerant Latch 2015

 فایل وورد  تعداد صفحه: 25

لینک دانلود مقاله انگلیسی

 

خلاصه:

این مقاله یک عملکرد مناسب لچ به همراه تحمل بالا  آشفتگی تک موردی(SEU)  در تکنولوژی CMOS نانومتر را ارائه و تحلیل می کند. گره های داخلی لچ با استفاده از ترکیب مولر C-عناصر و با افزونگی دوگانه مدولار و بازخورد متقابل نسبت  به SEU ها ایمن و مقاوم می شوند. گره های خروجی انعطاف پذیربرای SEU هستند و اجازه می دهند که به مقدار منطقی صحیح هنگامی که SEU در گره ها خروجی رخ می دهد بازیابی شوند.توان اتلافی، تاخیر انتشار و بار گذاری بحرانی از لچ پیشنهاد شده تحمل بالا  SEU ارزیابی می شود و با نرم افزار SPICE شبیه سازی  و مورد بحث قرار می گیرد.نتایج شبیه سازی نشان می دهد که لچ پیشنهادی به دست آمده دارای مصالحه بهتری در نرخ خطای نرم، تاخیر، توان وناحیه  نسبت به لچ های سخت تر پیشین است. به طور متوسط لچ (high performance SEU Tolerance) HPST  نیاز به 70.31٪ قسمت فوقانی  ناحیه دارند، اما بارگذاری بحرانی را 71.05٪ بهبود می بخشد و تولید تاخیر توانی با 51.96٪ کاهش می یابد.بنابراین راه حل عالی  برای برنامه های است که نیاز به هر دو عملکرد بالا و قابلیت اطمینان بالا دارند. شبیه سازی مونت کارلو نیز  استحکام لچ پیشنهاد شده در حضور فرایند، تغییرات دما و ولتاژ (PVT). تایید می کند.

کلید واژه: خطای گذرا، خطای نرم، آشفتگی تک مورد،طرح تابش سخت، عنصر C